Optical characterization techniques for high-performance microelectronic device manufacturing II - 25-26 October 1995, Austin, Texas
- Författare
- (John K. Lowell, Ray T. Chen, Jagdish P. Mathur, chairs/editors)
- Genre
- Konferenspublikation
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Cop. 1995 | USA | 302 sidor. | 0-8194-2004-2 |